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元器件選型之安規(guī)電容篇

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元器件選型之安規(guī)電容篇

      大家可能會奇怪,為啥選型還不把所有電容都列進去,而只把安規(guī)電容單獨列出呢?這是有原因的,因為電容太復雜,種類太多,其失效機理和關注的參數(shù)因用途、工藝特點的不同而有很大差異。所以,做個細分是很必要的。

      安規(guī)電容有個最典型的失效機理是低壓失效。從安規(guī)的角度來講,都喜歡把余量留得大一點,這樣即使設計上有點缺陷,也不會器件故障,竊以為!恰恰相反,殊不知,物極必反,哲學規(guī)律在此得到充分體現(xiàn)。

低壓失效的典型癥狀:

1 實際應用電壓遠低于電容的額定耐壓值,一般在額定值的10%以下;

2 濕熱實驗或潮濕預處理后電容會失效;

3 從濕熱實驗和潮濕預處理后,進行高熱實驗或電路板烘烤,電容會恢復正常;

4 或者將失效電容從電路板上拆下,兩端加較高點壓,額定值的 60%-75%左右,電容的性能會恢復正常。

      如果您用到的電容遇到了類似現(xiàn)象,基本上可以初步確診為低壓失效的可能了。那原因何在?

      電容的兩個極片中間有介質(zhì),然后被殼體將電容極片、介質(zhì)進行封裝,事實上,封裝的殼體不會100%的致密,就給潮氣滲入提供了可能。舉例,耐壓在 50V 的安規(guī)電容,潮氣滲入了,在電容兩端加 5V 電壓的時候,附著在介質(zhì)上的潮氣就成了一個漏電流通道,但因為電壓低,這個漏電流并不很大,通路阻抗上產(chǎn)生的熱量也并不大,不足以將水汽加熱蒸發(fā)掉,但破壞電容的儲能特性是足夠了。于是,電容失效了。

      后面,高溫實驗就好理解了,高溫下水汽蒸發(fā),漏電流通道不復存在,電容恢復正常;如果加高壓,導通阻抗仍維持不變,隨著電壓的升高,漏電流勢必增大,增大的漏電流在導通阻抗上就會產(chǎn)生較大的熱量 I2R,這個熱量也會導致潮氣蒸發(fā),結果也是電容漏電流逐漸變小,直至恢復儲能功能。

      因此安規(guī)電容選型的耐壓指標絕對不能余量留得太大,這是選型時容易出現(xiàn)問題的一個關鍵點。至于其他指標,比較常規(guī),就不羅嗦了。

本文轉(zhuǎn)載自:國家信息技術國檢中心


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| 發(fā)布時間:2018.05.19    來源:電源適配器廠家
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