浪涌沖擊抗擾度測試常見問題對策及整改措施 | ||||||||||||||
浪涌沖擊形成的機(jī)理 電磁兼容領(lǐng)域所指的浪涌沖擊一般來源于開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)。
系統(tǒng)開關(guān)瞬態(tài)與以下內(nèi)容有關(guān): a)主電源系統(tǒng)切換騷擾,例如電容器組的切換; b)配電系統(tǒng)內(nèi)在儀器附近的輕微開關(guān)動作或者負(fù)荷變化; c)與開關(guān)裝置有關(guān)的諧振電路,如晶閘管; d)各種系統(tǒng)故障,例如對設(shè)備組接地系統(tǒng)的短路和電弧故障。
雷電產(chǎn)生浪涌(沖擊)電壓的主要原理如下: a)直接雷擊于外部電路(戶外),注入的大電流流過接地電阻或外部電路阻抗而產(chǎn)生電壓; b)在建筑物內(nèi)、外導(dǎo)體上產(chǎn)生感應(yīng)電壓和電流的間接雷擊(即云層之間或云層中的雷擊或擊于附近物體的雷擊,這種雷擊產(chǎn)生的磁場) ; c)附近直接對地放電地雷電入地電流耦合到設(shè)備組接地系統(tǒng)的公共接地路徑。 當(dāng)保護(hù)裝置動作時,電壓和電流可能發(fā)生迅速變化,并可能耦合到內(nèi)部電路。
不同的電子、電氣產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)對浪涌(沖擊)抗擾度試驗的要求是不同的,但這些標(biāo)準(zhǔn)關(guān)于浪涌(沖擊)抗擾度試驗大多都直接或間接引用 GB/T17626.5-1999(idt IEC 61000-4-5:199)5:《電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 浪涌(沖擊)抗擾度試驗》這一國家電磁兼容基礎(chǔ)標(biāo)準(zhǔn),并按其中的試驗方法進(jìn)行試驗。下面就簡要介紹一下該標(biāo)準(zhǔn)的內(nèi)容、試驗方法及相關(guān)要求。
適用于電氣和電子設(shè)備在規(guī)定的工作狀態(tài)下工作時,對由開關(guān)或雷電作用所產(chǎn)生的有一定危害電平的浪涌(沖擊)電壓的反應(yīng)。 該標(biāo)準(zhǔn)不對絕緣物耐高壓的能力進(jìn)行試驗。該標(biāo)準(zhǔn)不考慮直擊雷。
對電氣和電子設(shè)備的供電電源端口、信號和控制端口在受到浪涌(沖擊)干擾時的性能進(jìn)行評定。
評定設(shè)備在遭受到來自電力線和互連線上高能量浪涌(沖擊)騷擾時產(chǎn)品的性能。
a)信號發(fā)生器的特性應(yīng)盡可能地模擬開關(guān)瞬態(tài)和雷擊瞬態(tài)現(xiàn)象; b)如果干擾源與受試設(shè)備的端口在同一線路中,例如在電源網(wǎng)絡(luò)中(直接耦合),那么信號發(fā)生器在受試設(shè)備的端口能夠模擬一個低阻抗源; c)如果干擾源與受試設(shè)備的端口不在同一線路中(間接耦合) ,那么信號發(fā)生器能夠模擬一個高阻抗源。 對于不同場合使用的產(chǎn)品及產(chǎn)品的不同端口,由于相應(yīng)的浪涌(沖擊)瞬態(tài)波形,各不相同,因此對應(yīng)的模擬信號發(fā)生器的參數(shù)也各不相同。 圖 17:浪涌(沖擊)信號電壓及電流波形 例如:對交流電源端口,通常采用的是 1.2/50μs (8/20μs)組合波信號發(fā)生器;對電信端口,通常采用的是 10/700μs 的符合 CCITT 要求的試驗信號發(fā)生器。浪涌(沖擊)波形見圖 17 所示。
浪涌(沖擊)測試一般應(yīng)在線進(jìn)行。 測試時,應(yīng)根據(jù)不同的端口選擇對應(yīng)的波形發(fā)生器和相應(yīng)的耦合/去耦單元,同時也應(yīng)注意不同狀態(tài)下的信號源內(nèi)阻選擇。 試驗等級及其選擇: 表 3:試驗等級
試驗等級應(yīng)根據(jù)安裝情況來選擇。 對較高等級測試時,試驗應(yīng)滿足該表所列的較低等級。 對具體的產(chǎn)品來說,試驗等級選擇往往已在相應(yīng)的產(chǎn)品或產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)中加以規(guī)定。
該標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的環(huán)境條件: 環(huán)境溫度: 15℃~35℃、相對濕度: 10%~75%RH、大氣壓力: 86kPa~106kPa
圖 18、圖 19 是交/直流電源端浪涌(沖擊)差模和共模試驗配置示意圖。
圖 18:用于電源端浪涌(沖擊)試驗配置(差模方式)
圖 19:用于電源端浪涌(沖擊)試驗配置(共模方式)
試驗實(shí)施 電源、信號和其他功能電量應(yīng)在其額定的范圍內(nèi)使用,并處于正常的工作狀態(tài)。根據(jù)要進(jìn)行試驗的 EUT 的端口類型選擇相應(yīng)的試驗試驗波形發(fā)生器和耦合單元及相應(yīng)的信號源內(nèi)阻。 使受試設(shè)備處于典型工作條件下,根據(jù)受試設(shè)備端口及其組合,依次對各端口施加沖擊電壓, 。 每種組合應(yīng)針對不同脈沖極性進(jìn)行測試,兩次脈沖間隔時間不少于 1min。 對電源端子進(jìn)行浪涌測試時,應(yīng)在交流電壓波形的正、負(fù)峰值和過零點(diǎn)分別施加試驗電壓。 對電源線和信號線應(yīng)分別在不同組合的共模和差模狀態(tài)下施加脈沖沖擊。 每種組合狀態(tài)至少進(jìn)行 5 次脈沖沖擊。 若需滿足較高等級的測試要求,也應(yīng)同時進(jìn)行較低等級的測試,只有兩者同時滿足,我們才認(rèn)為測試通過。 不同的產(chǎn)品或產(chǎn)品族標(biāo)準(zhǔn)對試驗的實(shí)施可能根據(jù)產(chǎn)品的特點(diǎn)有特定的規(guī)定。
若電快速速變脈沖群測試通不過,可能產(chǎn)生如下后果: (1)引起接口電路器件的擊穿損壞。 (2)造成設(shè)備的誤動作。 文章轉(zhuǎn)載自網(wǎng)絡(luò),如有侵權(quán),請聯(lián)系刪除。 | ||||||||||||||
| 發(fā)布時間:2018.05.28 來源:電源適配器 |
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